Przejdź do głównej treści
Otwórz wyszukiwarkę
Szukaj
Zamknij wyszukiwarkę Wyczyść Szukaj
Produkty w koszyku: 0. Zobacz szczegóły
Twój koszyk jest pusty
Skip main navigation
End of main navigation

Kategorie sklepu

Pomiń nawigację boczną

Producenci

Wybierz 2K Consulting 30 Plenum Spółdzielni Zenum 3S MEDIA 44.PL 4A Oficyna 4dot 4th Estate A5 K. Krynicka AA Aba ABACUS Abbeville Institute, Ltd. Abrams ACC Art Books ACCA Account Actes Sud Acturus Publishing Limited AD REM ADAM Adam Marszałek ADAMADA ADAMANTAN Adamiak Piotr ADAMIGO Addison Press Adit Aetos Media AFM Against Gravity Agencja Dramatu i Teatru ADiT Agencja Promocji Turystyki AGENCJA PROMOCJI ZIELENI Agencja Promocji Zieleni Sp.z o.o. Agencja TD Agencja Wydawnicza Gajus AGH AGORA Agora dla dzieci AgroHorti Media AHA AJAKS AKA Oficyna Akademia Humanistyczna im. A. Gieysztora Akademia Jana Długosza Akademia Marynarki Wojennej Akademia Pożarnicza Akademia Rolnicza w Szczecinie Akademia Rolnicza we Wrocławiu Akademia Sztuk Pięknych w Warszawie Akademia Sztuki Wojennej Akademia Transportu i Przedsiębiorczości AkaTimi AKCES Akcydens AKSJOMAT AKSJOMAT Piotr Nodzyński AKTYWA Akurat ALBATROS Albin Michel ALBIUS Alegoria Aleksandria ALETHEIA Alfa-Medica Press Alfred A. Knopf Alkazar Allen Lane Allen Press Alma Edizioni ALMA-PRESS Altenberg AMBER Amber Books AMDG AMEET Amepol Inc. Amerykańsko-Polski Instytut Budownictwa Ośrodek Badawczy NAHB AMMO ANADIOMENE ANAGRAM Anatta Andre Deutsch Andrew Moszczynski Group Andrews McMeel Aniew ANNAŁ ANTRA ANTYK Marek Derewiecki AnWero Aperture Press APN Promise APN PROMISE Sp.z o.o. W-wa / Microsoft Press/ Arcana Arche Archeologia Fotografii ARCHI-PLUS Przemysław Markiewicz Archiwum - System Arcturus Publish

Etykiety
Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej

Współczesna mikroanaliza rentgenowska

Dostępność:
na wyczerpaniu
Czas wysyłki: 3 dni
Dostawa od 12,50 zł - Paczkomaty INPOST

z VAT bez VAT
Cena 36,90 zł
egz.
Zapytaj o produkt
Udostępnij

Opis

Koszty dostawy

Produkty powiązane

W książce opisano procesy oddziaływania elektronów z materiałem próbki oraz scharakteryzowano mikroobjętość określającą przestrzenną rozdzielczość mikroanalizy. Omówiono współcześnie stosowane metody detekcji promieniowania X oraz podstawowe techniki mikroanalizy. Określono optymalne warunki prowadzenia analiz oraz ich możliwości i ograniczenia. Przedstawiono standardowe metody korekcji stosowane w ilościowej mikroanalizie rentgenowskiej elementów mikrostruktury próbki o wymiarach większych od wymiarów krytycznych sfer wzbudzenia promieniowania X oraz opisano zasady ustalania procedury eksperymentalnej, zapewniającej uzyskanie wysokiej dokładności analiz. Uwzględniono specyfikę analizy długofalowego promieniowania X, szczególnie pierwiastków lekkich (Z<11). Przedstawiono niestandardowe metody analizy ilościowej, które powinny być stosowane w szczególnych przypadkach. 
 
Książka stanowi istotną pomoc naukową dla studentów i doktorantów z zakresu inżynierii materiałowej, metalurgii, fizyki, chemii oraz kierunków pokrewnych, a także specjalistów wykorzystujących w swoich badaniach mikroanalizę składu chemicznego materiałów. Trudne zagadnienia teoretyczne zostały przedstawione w sposób przystępny i łatwy do zrozumienia nawet przez średnio zaawansowanych studentów.



ISBN: 9788378145974
Autor: Sikorski Zdzisław.E. redakcja
Oprawa: broszura
Rok wydania: 2016
Format: B-5
Stron: 122
  • dostawa online Darmowa

    tylko do produktów opisanych jako PDF/produkt elektroniczny

  • Kurier Inpost 15,00 zł

  • Paczkomaty INPOST 12,50 zł

  • Odbiór osobisty Darmowa

    w siedzibie firmy

Cena dostawy dotyczy tego produktu (w wybranym wariancie - jeśli dotyczy). Może się ona zmienić po dodaniu innych produktów do koszyka.

Nowości