2 300,10 zł
Cena regularna:
2 706,00 zł
1 870,00 zł
Cena regularna:
2 200,00 zł
2 509,20 zł
Cena regularna:
2 952,00 zł
2 040,00 zł
Cena regularna:
2 400,00 zł
1 568,25 zł
Cena regularna:
1 845,00 zł
1 275,00 zł
Cena regularna:
1 500,00 zł
1 829,20 zł
Cena regularna:
2 152,00 zł
1 487,15 zł
Cena regularna:
1 749,59 zł
3 241,05 zł
Cena regularna:
3 813,00 zł
2 635,00 zł
Cena regularna:
3 100,00 zł
2 300,10 zł
Cena regularna:
2 706,00 zł
1 870,00 zł
Cena regularna:
2 200,00 zł
4 338,83 zł
Cena regularna:
5 104,50 zł
3 527,50 zł
Cena regularna:
4 150,00 zł
2 351,95 zł
Cena regularna:
2 767,00 zł
1 912,15 zł
Cena regularna:
2 249,59 zł
1 832,70 zł
Cena regularna:
3 431,70 zł
1 745,43 zł
Cena regularna:
3 268,29 zł
2 927,40 zł
Cena regularna:
3 444,00 zł
2 380,00 zł
Cena regularna:
2 800,00 zł
3 868,35 zł
Cena regularna:
4 551,00 zł
3 145,00 zł
Cena regularna:
3 700,00 zł
3 868,35 zł
Cena regularna:
4 551,00 zł
3 145,00 zł
Cena regularna:
3 700,00 zł
2 142,85 zł
Cena regularna:
2 521,00 zł
1 742,15 zł
Cena regularna:
2 049,59 zł
2 613,75 zł
Cena regularna:
3 075,00 zł
2 125,00 zł
Cena regularna:
2 500,00 zł
1 832,70 zł
Cena regularna:
3 431,70 zł
1 745,43 zł
Cena regularna:
3 268,29 zł
1 097,78 zł
Cena regularna:
1 291,50 zł
892,50 zł
Cena regularna:
1 050,00 zł
Cienkie warstwy w strukturach baterii słonecznych
Rozdział 1: Teoretyczne podstawy fotokonwersji energii słonecznej;
Rozdział 2: Zarys technologii epitaksjalnego wzrostu cienkich warstw baterii słonecznych;
Rozdział 3: Termodynamiczna analiza procesu heterokrystalizacji cienkich warstw z fazy ciekłej;
Rozdział 4: Zjawiska optyczne w półprzewodnikach;
Rozdział 5: Architektura struktur cienkowarstwowych baterii słonecznych;
Rozdział 6: Metody pomiaru parametrów cienkich warstw półprzewodników.
ISBN:83-89246-38-4
Dostępność: na wyczerpaniu
Wysyłka w: 3 dni
TECHNIKA I ZARZĄDZANIE KONTROLĄ JAKOŚCI W BUDOWIE MASZYN
Skrypt pt: Technika i zarządzanie kontroląjakości w budowie maszyn jest przeznaczony głównie dla studentów studiów dziennych Wydziału Mechanicznego Politechniki Lubelskiej, specjalności Metrologia i Komputerowe Systemy Pomiarowe. Utworzenie na Wydziale Mechanicznym specjalności Metrologia i Komputerowe Systemy Pomiarowe i wprowadzenie do programu tej specjalności przedmiotu Zarządzanie kontroląjakości w liczbie 15 godzin wykładów w semestrze ósmym wraz z 15 godzinami ćwiczeń, stworzyło zapotrzebowanie na literaturę dotyczącą tego przedmiotu. Szerokie zainteresowanie w ostatnich latach jakością wyrobu i produkcji, spowodowało wzrost zainteresowania przemysłu metodami badania jakości i systemami zapewnienia jakości. Współczesne systemy zapewnienia jakości opierają się głównie na systemach pomiarowych wspomaganych komputerowo. Dynamika rozwoju metod badania jakości i ogromny postęp w pomiarach wielkości geometrycznych sprawiają, że aktualnie brak jest pozycji literatury, która byłaby dostosowana do treści programowych w/w przedmiotu i jednocześnie w sposób syntetyczny omawiała zagadnienia z różnych dziedzin wiedzy na których opierają się współczesne metody kontroli jakości w przemyśle budowy maszyn. Niniejszy skrypt jest próbą wypełnienia powstałej luki. Treść i zakres poszczególnych rozdziałów skryptu starałem się tak dobrać aby czytelnik mógł poznać podstawowe zasady i metodykę oraz znaleźć wyjaśnienie ważniejszych problemów kontroli jakości. Omawiając problemy kontroli jakości, szereg z nich uzupełniłem własną komputerowo wspomaganą analizą teoretyczną opartąna statystyce matematycznej. W ograniczonej objętości skryptu nie mogłem zmieścić wielu zagadnień z zakresu badaniajakości, jak również szeregu metod kontroli przyrządów pomiarowych. Z tego względu zamieściłem obszerny wykaz aktualnej literatury. Mam nadzieje, że skrypt pomoże opanować studentom treści programowe wykładów w/w przedmiotu jak również poprzez dostarczenie podstawowej wiedzy o technice i zarządzaniu kontroląjakości ułatwi korzystanie z literatury poświęconej temu tematowi.
ISBN 83-89246-30-9
Dostępność: na wyczerpaniu
Wysyłka w: 3 dni
Zapisz się do Newslettera